하이브리드 전기/프로토콜 테스트 솔루션

Semiconductor companies depend on

반도체 회사는 low level 검증 및 디버그에 사용할 수 있는 최초의 사용 가능한 프로토콜 분석기로 오실로스코프 프로토콜 디코딩 솔루션을 사용합니다. GRL의 오실로스코프 프로토콜 디코딩 솔루션은 과거에 스코프에서 볼 수 있었던 단순한 디코딩 기능을 넘어 일반적으로 전용 프로토콜 분석기에서만 볼 수 있는 정교한 프로토콜 분석 기능을 제공합니다. GRL은 다음 표준에 대해 오실로스코프 프로토콜 디코딩 솔루션을 제공합니다.

• NEW! HDMI 2.0 및 1.4b 프로토콜 디코딩 및 적합성 테스트 소프트웨어 (GRL-HDMI-DEC)
• NEW! DisplayPort 1.2 프로토콜 디코딩 소프트웨어 (GRL-DP-DEC)
• NEW! SD UHS-II 프로토콜 디코딩 소프트웨어
• EMMC 5.0 (Coming Soon - 자세한 정보 및 일정은 GRL에 문의하십시오)

GRL의 시스템 마진 검증(SMV) 솔루션은 시스템 레벨 테스트를 사용하는 동시에 PHY 트랜시버 내부에 구축된 저렴한 DFT(Design For Test) 기능과 저렴한 외부 지터 및 ISI 인젝터를 사용하여 기존의 고성능을 사용하는 대신 신호 손상을 재현하는 대체 테스트 방법론입니다. BERT 장비. SMV 테스트는 기존의 고정밀 BERT 기반 테스트를 대체하는 것이 아니라 이러한 SMV 솔루션의 비용이 낮기 때문에 많은 테스트 스테이션을 병렬로 실행하여 더 많은 테스트 커버리지와 더 높은 특성화 샘플 크기가 가능합니다. GRL은 다음 표준에 대한 시스템 마진 검증 솔루션을 제공합니다.

• USB (Coming Soon - 자세한 정보 및 일정은 GRL에 문의하십시오)

• EMMC (Coming Soon  - 자세한 정보 및 일정은 GRL에 문의하십시오)

• MIPI (Coming Soon  - 자세한 정보 및 일정은 GRL에 문의하십시오)

GRL의 통합 멀티 레이어 테스트 솔루션은 다양한 환경 조건에서 전기, 링크, 프로토콜 및 애플리케이션 수준에서 오류를 주입하고 모니터링하려는 제품 개발자를 위해 마련되었습니다. 이러한 솔루션을 통해 개발자는 응력 조건의 조합이 실패를 초래하고 한 계층의 실패가 다른 계층에 미치는 영향을 이해할 수 있습니다. GRL은 또한 고객과 협력하여 테스트 요구 사항을 이해하고 이러한 요구 사항을 충족하는 맞춤형 통합 테스트 솔루션을 만듭니다. GRL은 다음 표준에 대한 통합 멀티 레이어 테스트 솔루션을 제공합니다.

• USB (Coming Soon - 자세한 정보 및 일정은 GRL에 문의하십시오)
• UHS-II (Coming Soon - 자세한 정보 및 일정은 GRL에 문의하십시오)

GRL의 제조 테스트 솔루션은 주요 애플리케이션, 프로토콜 및 PHY 테스트 항목을 다루면서 높은 처리량과 사용 편의성에 최적화되어 있습니다. GRL은 또한 테스트 솔루션을 다른 자동화 및 데이터 보고 시스템과 맞춤화하고 통합할 것입니다. GRL은 다음 표준에 대한 제조 테스트 솔루션을 제공합니다.

• UHS-II (Coming Soon - 자세한 정보 및 일정은 GRL에 문의하십시오)